Zuverlässigkeitstestsystem für die Qualifizierung von Laserdioden im gepulsten oder CW-Regime

System zum Testen der Zuverlässigkeit von Laserdioden

Lebensdauertest- und Qualifizierungstestsystem für die Zuverlässigkeitsbewertung von Laserdioden im CW- oder gepulsten Regime bis zu 1 Nanosekunde. Bis zu 112 völlig unabhängige Glasfasergeräte werden gemäß mehreren benutzerprogrammierten Testszenarien elektrisch, thermisch und optisch getestet.

Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem wurde speziell für die Qualifizierung und den Test von fasergekoppelten Geräten mit maximaler interner und externer Messflexibilität entwickelt. Die optische Leistung der Laserdiode wird unabhängig von den BFMs oder einigen externen Fotodioden mit variabler Verstärkung für eine bessere Genauigkeit gemessen. Es ermöglicht die unabhängige und präzise Einstellung der Temperatur jedes Laserdiodengehäuses und jedes Laserdiodenchips.

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Puls- und CW-Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem. Kontaktieren Sie uns für Details und kundenspezifische Anpassungen – die Preisgrößenordnung ist hier nur ein Anhaltspunkt für eine Mindestanzahl von Laserdioden.

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