Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem wurde speziell für die Qualifizierung und den Test von fasergekoppelten Geräten mit maximaler interner und externer Messflexibilität entwickelt. Die optische Leistung der Laserdiode wird unabhängig von den BFMs oder einigen externen Fotodioden mit variabler Verstärkung für eine bessere Genauigkeit gemessen. Es ermöglicht die unabhängige und präzise Einstellung der Temperatur jedes Laserdiodengehäuses und jedes Laserdiodenchips.
Produktmodell :
150 000€
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Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem ist ein kurzpulskompatibles Zuverlässigkeitsbewertungssystem, das sich ideal für Lebensdauertests und Qualifikationstests eignet.
Hauptmerkmale:
Zu den Anwendungen dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystems gehören alle Qualifikationen, Lebensdauertests oder Einbrenntests:
Eine dedizierte Programmierüberwachungs-GUI mit einer einfach zu bedienenden grafischen Oberfläche ermöglicht dem Benutzer die vollständige Kontrolle über alle Modulfunktionen unabhängig voneinander.
Wenn Sie an einer geringeren Anzahl von Kanälen oder einem Mehrkanal-Treiber interessiert sind, der keine Funktionen für Zuverlässigkeitstests benötigt, können Sie das folgende Produkt in Betracht ziehen: Mehrkanal-Laserdiodentreiber
Dieses Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem umfasst mehrere Ebenen der gesicherten Datenverwaltung, um die Datenintegrität auch bei Stromausfall sicherzustellen. Ist das vollständigste System aus unserer langjährigen Erfahrung mit gepulsten Laserdiodentreibern wie:
Dieses System ist ideal für die Zuverlässigkeitsbewertung von Einzelmode-Laserdioden wie 808-nm-Laserdioden , 915-nm-Laserdioden , 976-nm-Laserdioden , 980-nm-Laserdioden , 1064-nm-Laserdioden , 1550-nm-Laserdioden oder anderen Wellenlängen. Butterfly-Laserdioden wie II-VI , Lumentum oder 3SP sind bestens erprobt.
| Capacity | Up to 112 fibered devices |
|---|---|
| Diode chip temperature range | 10 - 55 °C |
| Diode package temperature range | 20 - 85 °C |
| Temperature stability (Typ) | < 1 mK |
| Control loop | ACC, APC, LIV |
| Current range (CW) | 1 - 2500 mA |
| Current range (Pulsed peak current) | 1 - 4000 mA |
| Pulse duration | 0.5 ns to CW |
| Compliance voltage (adjustable by user) | 1 - 24 V |
| Pulse overshoot (adjustable by user) | Down to 0 % |
| BFM / Ext photodiode measurement | Yes / Yes |
| Internal CW LIV / Pulsed LIV | Yes / Yes (provisional) |
| Current modulation | Exyernal or internal : sin /sqr / triang |
| Driver types | 100 % individual setpoints and test scenarios |
| Laser drive current setpoint resolution | Down to 25 µA |
| Laser drive current stability | < 0.1 mA |
| Internal embedded memory (per tray of 8 laser diodes) | 50 Go |
Picture | Short descritption / PN | Description | Documents | Price (ex VAT) | Avalaible | Qty | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | Puls- und CW-Komplettsystem PN : | Puls- und CW-Laserdioden-Zuverlässigkeitstestsystem. Kontaktieren Sie uns für Details und kundenspezifische Anpassungen – die Preisgrößenordnung ist hier nur ein Anhaltspunkt für eine Mindestanzahl von Laserdioden. | 150 000€ | Kontaktiere uns |
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