Système de mesure de fiabilité de diodes lasers - régime continu/impulsionnel

Système de mesure de fiabilité de diodes lasers

Système de mesure de durée de vie et de qualification pour l’évaluation de la fiabilité des diodes lasers en régime continu ou impulsionnel (inférieur à 1 nanoseconde). Jusqu’à 112 diodes lasers sont pilotées indépendamment et testées électriquement, thermiquement et optiquement selon des scénarios programmés par l’utilisateur.

Ce système de test de fiabilité de diode laser a été spécialement conçu pour la qualification et le test de dispositifs couplés dans une fibre avec un maximum de flexibilité sur les mesures internes et externes. La puissance optique de la diode laser est mesurée depuis la BFM ou une photodiode externe à gain variable pour une meilleure précision. Il permet l’ajustement indépendant et précis de la température du boîtier des diodes laser et de la puce des diodes laser.

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système de test de fiabilité de diode laser
Exemple d’une impulsion de 5 ns atteignant un courant crête de 4 A en environ 1 ns

Ce système de mesure de fiabilité de diode laser est un système d’évaluation compatible à impulsions courtes, idéal pour les tests de durée de vie et de qualification.

Caractéristiques clés :

  • Du régime continu jusqu’à une largeur d’impulsion inférieure à la nanoseconde
  • Mesure des caractéristiques LIV de la diode laser en mode continu et impulsionnel
  • Chaque diode laser sont indépendantes les unes des autres
  • Idéal pour diode butterfly ou autres boîtiers couplés à des fibres (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can etc.)
  • Mémoire flash intégrée sur chaque tiroir de 8 diodes laser
  • Programme IHM complet et facile d’utilisation
  • Fenêtre de protection laser complète

 

Ce système de test de fiabilité de diodes lasers concerne les tests menés :

  • En parallèle de la production par les équipes R&D et les équipes des services de qualification
  • A la fin du processus de production (Burn-In)
  • Après le processus de production pour des applications requérant un haut niveau de fiabilité tels que les applications aérospatiales ou dans le domaine nucléaire.

Une IHM dédiée avec une interface simple d’utilisation permet un contrôle optimum de tous les processus de test de chacune des diodes ou familles de diodes lasers.

Si vous êtes intéressé par un nombre inférieur de canaux ou un pilote multicanaux sans avoir besoin de fonctionnalités de test de fiabilité, vous pouvez envisager le produit suivant : Pilote de diode laser multicanaux

Ce système de mesure de fiabilité de diode laser comprend plusieurs niveaux de sécurisation des données accumulées même en cas de coupure de courant. C’est le système le plus complet issu de notre vaste expérience dans les pilotes de diodes laser telles que:

 

Ce système est idéal pour l’évaluation de la fiabilité des diodes lasers monomode comme les diodes lasers 808 nm/ 915 nm / 976 nm / 980 nm / 1064 nm / 1550 nm ou toute autre longueur d’onde. Les diodes laser « butterfly » telles que celles de II-VI, lumentum ou 3SP sont parfaitement bien testées.

CapacityUp to 112 fibered devices
Diode chip temperature range10 - 55 °C
Diode package temperature range20 - 85 °C
Temperature stability (Typ)< 1 mK
Control loopACC, APC, LIV
Current range (CW)1 - 2500 mA
Current range (Pulsed peak current)1 - 4000 mA
Pulse duration0.5 ns to CW
Compliance voltage (adjustable by user)1 - 24 V
Pulse overshoot (adjustable by user)Down to 0 %
BFM / Ext photodiode measurementYes / Yes
Internal CW LIV / Pulsed LIVYes / Yes (provisional)
Current modulationExyernal or internal : sin /sqr / triang
Driver types100 % individual setpoints and test scenarios
Laser drive current setpoint resolutionDown to 25 µA
Laser drive current stability< 0.1 mA
Internal embedded memory (per tray of 8 laser diodes)50 Go
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