パルスまたはCW領域におけるレーザーダイオードの信頼性試験システム

短パルス対応のレーザーダイオード信頼性試験 装置で、寿命試験や認定試験に最適な信頼性評価装置です。

主な特徴:

• CW（連続波）から1ns以下のパルス幅まで
• 熱影響を避けるためのCW-LIVおよびパルスLIVテスト
• 各レーザーダイオードの100％独立した動作
• バタフライやその他のファイバーカップリングパッケージ（Mini-Butterfly、TOSA、TO-Canなど）に最適です。
• 8個のレーザーダイオードの各トレイにフラッシュメモリーを内蔵。
• 使いやすいGUIを採用したプログラミング監視GUI
• 特殊な保護ウィンドウでレーザーを完全に保護

このレーザーダイオード信頼性試験 装置の用途は、あらゆる資格試験、寿命試験、バーンイン試験などです。

• 研究開発・品質保証チームの生産工程と並行して
• レーザーダイオードの製造工程の最後に
• 航空宇宙、原子力発電所など、高い信頼性が要求される用途を考えた場合、製造後評価に。

使いやすいグラフィカルなインターフェイスを持つ専用のプログラミング監視GUIにより、ユーザーはすべてのモジュール機能を独立して完全に制御することができます。

より少ないチャンネル数、または信頼性試験機能を必要としないマルチチャンネルドライバにご興味のある方は、以下の製品をご検討ください：マルチチャンネルレーザーダイオードのドライバ

このレーザーダイオード信頼性試験 システムは、停電時でもデータの完全性を保証するために、複数のレベルの安全なデータ管理を含んでいます。 パルスレーザダイオードドライバの豊富な経験を生かし、最も完成度の高いシステムとなっています。

808nmレーザーダイオード、915nmレーザーダイオード、976nmレーザーダイオード、980nmレーザーダイオード、1064nmレーザーダイオード、1550nmレーザーダイオード、その他の波長のシングルモードレーザーダイオードの信頼性評価に最適なシステムです。 II-VI、ルメンタム、3SPなどのバタフライレーザーダイオードは完璧にテストされています。