用于脉冲或连续状态下半导体激光管质量鉴定的可靠性测试系统

半导体激光管可靠性测试系统

用于在连续或低至 1 纳秒的脉冲状态下进行的半导体激光管可靠性评估的寿命测试和质量鉴定测试系统。 根据多个用户编程的测试场景,对多达 112 个完全独立的光纤设备进行电气、热和光学测试。

半导体激光管可靠性测试系统专为光纤耦合设备的鉴定和测试而设计,具有最大的内部和外部测量灵活性。 半导体激光管光功率的测量独立于 BFM 或一些具有可变增益的外部光电二极管,以获得更好的精度。 它允许对每个半导体激光管封装和每个半导体激光管芯片的温度进行独立和精确的调整。

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