该半导体激光管可靠性测试系统专为光纤耦合设备的鉴定和测试而设计，可进行灵活的内部和外部测量。 半导体激光管光功率是由BFMs或带可变增益的外部光电二极管独立测量的，以获得更好的精度。 它可以独立和精确地调节每个半导体激光管封装和芯片的温度。
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该半导体激光管可靠性测试系统是一种短脉冲兼容的可靠性评估系统，适用于寿命测试和质量鉴定测试。
主要特征 ：
该半导体激光管可靠性测试系统的应用包括质量鉴定、寿命测试或老化测试：
带易于使用的图形界面 GUI，用于调制监测，用户可自定义所有模块功能。
如果您对较少通道数或不需要可靠性测试功能的多通道驱动器感兴趣，您可以考虑以下产品：多通道半导体激光管驱动器
该半导体激光管可靠性测试系统包括多个级别的安全数据管理，即使在断电时也能确保数据完整性，它是最完整的系统，它来自于我们在脉冲半导体激光管驱动器方面的广泛经验，例如：
该系统适用于单模半导体激光管的可靠性评估，如808 nm 半导体激光管、 915 nm 半导体激光管、 976 nm 半导体激光管、 980 nm 半导体激光管、 1064 nm 半导体激光管、 1550 nm 半导体激光管或任意其他波长版本。 蝶形半导体激光管，例如II-VI 、 lumentum或3SP ，均进行了测试。
| Capacity | Up to 112 fibered devices |
|---|---|
| Diode chip temperature range | 10 - 55 °C |
| Diode package temperature range | 20 - 85 °C |
| Temperature stability (Typ) | < 1 mK |
| Control loop | ACC, APC, LIV |
| Current range (CW) | 1 - 2500 mA |
| Current range (Pulsed peak current) | 1 - 4000 mA |
| Pulse duration | 0.5 ns to CW |
| Compliance voltage (adjustable by user) | 1 - 24 V |
| Pulse overshoot (adjustable by user) | Down to 0 % |
| BFM / Ext photodiode measurement | Yes / Yes |
| Internal CW LIV / Pulsed LIV | Yes / Yes (provisional) |
| Current modulation | Exyernal or internal : sin /sqr / triang |
| Driver types | 100 % individual setpoints and test scenarios |
| Laser drive current setpoint resolution | Down to 25 µA |
| Laser drive current stability | < 0.1 mA |
| Internal embedded memory (per tray of 8 laser diodes) | 50 Go |
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